Zeta電位測量

Zeta電位是表征分散體系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)，zeta電位越高，顆粒間的相互排斥力越大，膠體體系越穩(wěn)定，

因此通過測量zeta電位可以預(yù)測膠體的穩(wěn)定性。

相位分析光散射（PALS）法原理

帶電顆粒在電場力作用下向電極反方向做電泳運(yùn)動，單位電場強(qiáng)度下的電泳速度定義為電泳遷移率。顆粒在電

泳遷移時，會帶著緊密吸附層和部分?jǐn)U散層一起移動，與液體之間形成滑動面，滑動面與液體內(nèi)部的電位差即

為zeta電位。Zeta電位與電泳遷移率的關(guān)系遵循Henry方程，通過測量顆粒在電場中的電泳遷移率就能得出顆

粒的zeta電位。

電泳光散射（ELS）法通過測量散射光的頻率偏移，來確定顆粒的電泳遷移率。而PALS法通過測量散射光信號

的相位變化來獲得顆粒的電泳遷移率，測量分辨率比ELS法高兩個數(shù)量級，從而提高了zeta電位的測量精度。

性能特點(diǎn)

1 利用光纖技術(shù)集成發(fā)射光路和接收光路，替代傳統(tǒng)電泳光散射的分立光路，使參考光和散射光信號的傳輸

不受灰塵和外界雜散光的干擾，有效地提高了信噪比和抗干擾能力。

2 基于雙電層理論模型，求解顆粒的雙電層厚度，獲得準(zhǔn)確的顆粒半徑與雙電層厚度的比值，再利用最小二

乘擬合算法獲得精確的Henry函數(shù)表達(dá)式，進(jìn)而有效提高了zeta電位的計算精度。

3 使用平底的毛細(xì)管樣品池測量zeta電位，由于樣品池底部是水平的，從而使得電場強(qiáng)度比傳統(tǒng)的毛細(xì)管樣

品池更加均勻，減少了測量誤差，進(jìn)而提高了zeta電位的測量精度與重復(fù)性。